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光柵推掃采用一種全新的成像技術，通過推掃或調諧波長實現圖像與光譜的合二為一，改變了傳統光譜儀或相機獲取數據單一的缺點，為用戶提供了一種全新的分析手段。

 

光柵推掃特性描述：

可同時獲取影響及光譜信息；

多種波長范圍及波長分辨率，供用戶根據實際需求彈性選擇；

體積簡介架構牢固，適合工業及科研研究應用；

采用高衍射效率的體全息相位光柵；

低散光低失真高信噪比。

 

光柵推掃適合動態應用，目前成像光譜儀多使用推掃式成像，地面和現場也使用這種成像方式。這種成像方式是：CCD傳感器面陣的一維用于記錄待測物體的空間信息（通常是一行），使用衍射光學元件（如光柵）對入射光進行色散，并把不同波長的光頭引導CCD傳感器的不同部分上，這樣，CCD傳感器的第二維就成了光譜維，通過推掃式逐行掃描，就可以獲得第二空間量的信息，通過軟件后續處理就可以獲得圖像立方體圖片。這種成像技術實際上是把光譜儀的入射狹縫平行于光譜軸和一個空間軸，CCD傳感器面陣一次性獲取一條線陣上的全波段的光譜信息。

 

光柵推掃測量速度非常快，可用于在線分析，具有現場應用價值;微型化使得結構緊湊，抗震動，非專業人員易于掌握;選用通用探測器，成本也大大降低;其另一個優點在于系統的模塊化和靈活性。